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ANF CNRS : Ecole IN2P3 de microélectronique 2020

 

ATTENTION: Cette ANF se tiendra finalement en mode distanciel, sous forme de visioconfrence. Le contenu du programme allégé sera transmis sous peu. Des consignes seront transmises pour la connexion.

Objectifs pédagogiques de l'école :

 

    L’objectif de l’ANF est de proposer un état de l’art sur des sujets fondamentaux d’actualité, pour les microélectroniciens engagés dans la conception de circuits pour les futurs grands détecteurs de nos disciplines. Seront notamment traités:
  • Les méthodologies de conception, méthodologies de design mixte (Digital on top)
  • La tenue aux radiations
  • Les avancées dans le packaging des ASIC et les technologies 3D
  • Les évolutions des technologies et standards dans la transmission des flux de données à très hauts débits
  • Les technologies émergentes en dessous de 65nm et en particulier la 28nm
  • Les technologies accessibles à la communauté et l’évolution de la microélectronique à l’IN2P3.

 

Modalités pédagogiques :

  • Cours
  • Retours d'expérience
  • Sessions Posters
  •  

Programme:

  • Nouvelles méthodologies de conception
  • Conception avancé de design mixte ; Digital on top
  • Tenue aux radiations d'un point de vue des semi-conducteurs et de la physique des matériaux ; effets singuliers
  • Standards de transmissions très hauts débits
  • Etat de l’art sur les technologies émergentes
  • Utilisation de la technologie 28nm dans nos disciplines
  • Etat de l'art sur la microélectronique 3D
  • Packaging et modèles de simulation

 

Public :

  • Concepteurs de circuits intégrés
  •  

Dates et lieux :

  • Du dimanche 11 octobre 2020 au soir au mercredi 14 octobre 2020 au soir.
  • L'ANF sera suivie de la réunion du réseau des microélectroniciens IN2P3-IRFU, du jeudi 15 octobre 2020 au matin au vendredi 16 octobre 2020 à midi.
  •  

  • Centre CAES du CNRS de Fréjus - La villa Clythia (var)

 

Date limite d'inscription (via votre correspondant formation) :

  • Jeudi 10 septembre 2020

 

Précédentes éditions :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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